Photometric Analysis of Traces of Metals: [Pt.1]

Name: Photometric Analysis of Traces of Metals: [Pt.1] | General Aspects
Price: 167.38 EUR
Availability: OutOfStock
ISBN: 978-0-471-03094-2

General Aspects

E. B. Sandell Hiroshi Onishi(Autor*in)

Wiley (Verlag)

4. Auflage

Erschienen am 1. Januar 1989

Buch

Hardcover

1098 Seiten

978-0-471-03094-2 (ISBN)

167,38 €inkl. 7% MwSt.

Artikel ist vergriffen; keine Neuauflage

Weitere Details

Als PDF speichern Als Link merken