The proceedings of the 21st IEEE VLSI test symposium (VTS (2003) describing innovations in the testing of integrated circuits and systems.
Sprache
Verlagsort
Zielgruppe
Für höhere Schule und Studium
Für Beruf und Forschung
Maße
Höhe: 279 mm
Breite: 216 mm
Gewicht
ISBN-13
978-0-7695-1924-1 (9780769519241)
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