Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen
Simulation mit PSPICE
2. Auflage
Erschienen am 26. November 2019
Buch
Softcover
XI, 187 Seiten
978-3-658-26573-1 (ISBN)
Beschreibung
Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler.
Weitere Details
Auflage
2., erw. Aufl. 2019
Sprache
Deutsch
Verlagsort
Wiesbaden
Deutschland
Verlagsgruppe
Springer Fachmedien Wiesbaden GmbH
Zielgruppe
Für Beruf und Forschung
Editions-Typ
Überarbeitete Ausgabe
Illustrationen
194
194 s/w Abbildungen
XI, 187 S. 194 Abb.
Maße
Höhe: 24 cm
Breite: 16.8 cm
Gewicht
454 gr
ISBN-13
978-3-658-26573-1 (9783658265731)
DOI
10.1007/978-3-658-26574-8
Schweitzer Klassifikation
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Person
Prof. (em.) Dr.-Ing. habil. Peter Baumann
ist Lehrbeauftragter für das Modul Ausgewählte Kapitel der Elektrotechnik an der Hochschule Bremen.
Inhalt
Halbleiterdioden.- Bipolartransistoren.- Sperrschicht-Feldeffekttransistoren.- Mos-Feldeffekttransisotoren.- Leistungs-Mos-Feldeffekttransistor.- Operationsverstärker.- Optokoppler.-NTC- und PTC-Sensoren.-RGB-Farbsensor.-Piezoelektrische Summer.-Ultraschallwandler.