Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen
Simulation mit PSPICE
2. Auflage
Erschienen am 13. November 2019
XI, 187 Seiten
978-3-658-26574-8 (ISBN)
Beschreibung
Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler.
Weitere Details
Reihe
Auflage
2. Auflage 2019
Sprache
Deutsch
Verlagsort
Wiesbaden
Deutschland
Verlagsgruppe
Springer Fachmedien Wiesbaden GmbH
Zielgruppe
Für Grundschule und weiterführende Schule
Produkt-Hinweis
Reflowable
Illustrationen
XI, 187 S. 194 Abb.
Dateigröße
8,29 MB
ISBN-13
978-3-658-26574-8 (9783658265748)
DOI
10.1007/978-3-658-26574-8
Schweitzer Klassifikation
Weitere Ausgaben
Andere Ausgaben
Buch
11/2019
2. Auflage
Springer Vieweg
29,99 €
Artikel ist vergriffen; siehe Neuauflage
Person
Prof. (em.) Dr.-Ing. habil. Peter Baumann
ist Lehrbeauftragter für das Modul Ausgewählte Kapitel der Elektrotechnik an der Hochschule Bremen.
Inhalt
Halbleiterdioden.- Bipolartransistoren.- Sperrschicht-Feldeffekttransistoren.- Mos-Feldeffekttransisotoren.- Leistungs-Mos-Feldeffekttransistor.- Operationsverstärker.- Optokoppler.-NTC- und PTC-Sensoren.-RGB-Farbsensor.-Piezoelektrische Summer.-Ultraschallwandler.
