Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen
Simulation mit PSPICE
Erschienen am 29. September 2012
Buch
Softcover
IX, 135 Seiten
978-3-8348-2494-3 (ISBN)
Beschreibung
Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler.
Weitere Details
Auflage
2012
Sprache
Deutsch
Verlagsort
Wiesbaden
Deutschland
Verlagsgruppe
Springer Fachmedien Wiesbaden GmbH
Zielgruppe
Studierende der Studiengänge Elektrotechnik sowie Technische und Angewandte Physik an Fachhochschulen und Technischen Universitäten
Ingenieure und Physiker in der Praxis
Produkt-Hinweis
Broschur/Paperback
Klebebindung
Illustrationen
49 s/w Tabellen, 153 s/w Abbildungen
Bibliography; 49 Tables, black and white; 153 Illustrations, black and white
Maße
Höhe: 24 cm
Breite: 16.8 cm
Gewicht
259 gr
ISBN-13
978-3-8348-2494-3 (9783834824943)
DOI
10.1007/978-3-8348-2495-0
Schweitzer Klassifikation
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11/2019
2. Auflage
Springer Vieweg
29,99 €
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Person
Prof. Dr.-Ing. habil. Peter Baumann ist Lehrbeauftragter für das Modul Elektronik an der Hochschule Bremen.
Inhalt
Halbleiterdioden.- Bipolartransistoren.- Sperrschicht-Feldeffekttransistoren.- Mos-Feldeffekttransisotoren.- Leistungs-Mos-Feldeffekttransistor.- Operationsverstärker.- Optokoppler.