Test Generation for Very Large Scale Integration Chips

Name: Test Generation for Very Large Scale Integration Chips
Price: 53.41 EUR
Availability: OutOfStock
ISBN: 978-0-8186-8786-0

IEEE Computer Society Press,U.S.

Erschienen am 1. Januar 1988

Buch

Hardcover

400 Seiten

978-0-8186-8786-0 (ISBN)

53,41 €inkl. 7% MwSt.

Artikel ist vergriffen; keine Neuauflage

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