Abbildung von: Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials - Wiley-VCH

Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials

Instrumentation, Data Analysis and Applications
Wiley-VCH (Verlag)
1. Auflage
Erschienen am 8. März 2022
208 Seiten
E-Book
PDF mit Adobe-DRM
978-3-527-83394-8 (ISBN)
90,99 €inkl. 7% MwSt.
Systemvoraussetzungen
für PDF mit Adobe-DRM
E-Book Einzellizenz
Als Download verfügbar

Beschreibung

Weitere Details

Weitere Ausgaben

Personen

Inhalt

Systemvoraussetzungen