Abbildung von: Kelvin Probe Force Microscopy - Springer

Kelvin Probe Force Microscopy

From Single Charge Detection to Device Characterization
Springer (Verlag)
1. Auflage
Erschienen am 9. März 2018
XXIV, 521 Seiten
E-Book
PDF mit Wasserzeichen-DRM
978-3-319-75687-5 (ISBN)
223,63 €inkl. 7% MwSt.
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