Abbildung von: Sekundärionen- und Neutralteilchenmassenspektrometrie an oxidischen Dünnschichtsystemen - Deutscher Universitätsverlag

Sekundärionen- und Neutralteilchenmassenspektrometrie an oxidischen Dünnschichtsystemen

Der Einfluß ionenbeschußindizierter Prozesse auf die Sekundärteilchenemission im Zerstäubungsgleichgewicht und an Schichtgrenzflächen
Dieter Lipinsky(Autor*in)
Deutscher Universitätsverlag
Erschienen am 29. Juli 2013
IV, 211 Seiten
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978-3-663-14558-5 (ISBN)
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