Schweitzer Fachinformationen
Wenn es um professionelles Wissen geht, ist Schweitzer Fachinformationen wegweisend. Kunden aus Recht und Beratung sowie Unternehmen, öffentliche Verwaltungen und Bibliotheken erhalten komplette Lösungen zum Beschaffen, Verwalten und Nutzen von digitalen und gedruckten Medien.
In diesem Buch werden mehrere neue Ansätze vorgestellt, die den Weg für die nächste Generation integrierter Schaltungen ebnen, die auch in sicherheitskritischen Anwendungen erfolgreich und zuverlässig integriert werden können. Die Autoren beschreiben neue Maßnahmen zur Bewältigung der steigenden Herausforderungen im Bereich des Designs für Testbarkeit, Fehlersuche und Zuverlässigkeit, die für moderne Schaltungsentwürfe unbedingt erforderlich sind. Insbesondere werden in diesem Buch formale Techniken wie das Satisfiability (SAT)-Problem und das Bounded Model Checking (BMC) kombiniert, um die entstehenden Herausforderungen in Bezug auf die Zunahme des Testdatenvolumens, die Testanwendungszeit und die erforderliche Zuverlässigkeit zu bewältigen. Alle Methoden werden detailliert diskutiert und unter Berücksichtigung von industrie-relevanten Benchmark-Kandidaten ausführlich evaluiert. Alle Maßnahmen wurden in ein gemeinsames Framework integriert, das standardisierte Software/Hardware-Schnittstellen implementiert.
Sebastian Huhn ist derzeit PostDoc in der Gruppe für Technische Informatik an der Universität Bremen, Deutschland. Sebastian Huhn erhielt 2012 (2014) seinen Bachelor (Master) in Technischer Informatik an der Universität Bremen und promovierte 2020 zum Dr.-Ing.. Daneben ist er als Senior Researcher am Deutschen Forschungszentrum für Künstliche Intelligenz (DFKI) tätig. Seine Forschungsinteressen umfassen Testschnittstellen, formale Methoden, formale Lösungsverfahren, Pattern Retargeting und Zuverlässigkeitsanalyse bzw. -verbesserung von Schaltungen. Seit 2018 ist er im Programmkomitee der International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS), der International Conference on Advances in System Testing and Validation Lifecycle (VALID), des IEEE European Test Symposium (ETS) und der IEEE/ACM International Conference On Computer Aided Design (ICCAD) seit 2020.
Einführung.- Integrierte Schaltungen.- Formale Techniken.- Eingebettete Kompressionsarchitektur für Testzugriffsports.- Optimiertes SAT-basiertes Retargeting für eingebettete Kompression.- Rekonfigurierbare TAP-Controller mit eingebetteter Kompression.- Eingebettete mehrkanalige Testkompression für Tests mit geringer Pin-Anzahl.- Erhöhte Zuverlässigkeit durch formale Techniken.- Fazit und Ausblick.
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