Abbildung von: Thin Film Analysis by X-Ray Scattering - Wiley-VCH

Thin Film Analysis by X-Ray Scattering

Mario Birkholz(Autor*in)
Wiley-VCH (Verlag)
1. Auflage
Erschienen am 12. Mai 2006
XXII, 356 Seiten
E-Book
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978-3-527-60704-4 (ISBN)
151,99 €inkl. 7% MwSt.
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