Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II

Name: Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II | Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27-31, 1979
Brand: Springer
Price: 96.29 EUR
Availability: OnlineOnly

Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27-31, 1979

A. Benninghoven C.A. Jr. Evans R.A. Powell R. Shimizu H.A. Storms(Herausgeber*in)

Springer (Verlag)

Erschienen am 11. November 2013

XIV, 300 Seiten

E-Book

PDF mit Wasserzeichen-DRM

Systemvoraussetzungen

978-3-642-61871-0 (ISBN)