Abbildung von: Material Characterization Using Ion Beams - Springer

Material Characterization Using Ion Beams

J. Thomas(Herausgeber*in)
Springer (Verlag)
Erschienen am 25. November 2012
Buch
Softcover
XVIII, 517 Seiten
978-1-4684-0858-4 (ISBN)
53,49 €inkl. 7% MwSt.
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