Abbildung von: Kelvin Probe Force Microscopy - Springer

Kelvin Probe Force Microscopy

From Single Charge Detection to Device Characterization
Springer (Verlag)
Erschienen am 4. Januar 2019
Buch
Softcover
XXIV, 521 Seiten
978-3-030-09298-6 (ISBN)
235,39 €inkl. 7% MwSt.
Versand in 7-9 Tagen

Beschreibung

Weitere Details

Weitere Ausgaben

Personen

Inhalt