Abbildung von: Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Springer

Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon

Peter Pichler(Autor*in)
Springer (Verlag)
Erschienen am 2. Juni 2004
Buch
Hardcover
XXI, 554 Seiten
978-3-211-20687-4 (ISBN)
320,99 €inkl. 7% MwSt.
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