Physical Measurement and Analysis of Thin Films

Name: Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Price: 109.8 EUR
Availability: OutOfStock
ISBN: 978-0-306-39302-0

E. M. Murt(Herausgeber*in)

Plenum Publishing Corporation

Erschienen am 31. Dezember 1995

Buch

Hardcover

194 Seiten

978-0-306-39302-0 (ISBN)

109,80 €inkl. 7% MwSt.

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