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Memory Tecnology, Design, and Testing; Proceedings

International Workshop on Memory Techology, Design and Testing (2009: Hsinchu, Taiwan)
IEEE Computer Society Press
Erschienen am 1. Januar 2009
Buch
Softcover
95 Seiten
978-0-7695-3797-9 (ISBN)
171,50 €inkl. 7% MwSt.
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