Abbildung von: Defect-Induced Magnetism in Oxide Semiconductors - Woodhead Publishing

Defect-Induced Magnetism in Oxide Semiconductors

Woodhead Publishing
Erschienen am 24. Mai 2023
Buch
Softcover
736 Seiten
978-0-323-90907-5 (ISBN)
302,50 €inkl. 7% MwSt.
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