Abbildung von: 1999 International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in Vlsi Systems (Dft 99) - I.E.E.E.Press

1999 International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in Vlsi Systems (Dft 99)

Conference Proceedings
IEEE(Autor*in)
I.E.E.E.Press
Erschienen am 1. November 1999
Buch
Softcover
375 Seiten
978-0-7695-0325-7 (ISBN)
160,58 €inkl. 7% MwSt.
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