1999 4th International Symposium on Plasma Process-Induced Damage

Name: 1999 4th International Symposium on Plasma Process-Induced Damage
Price: 162.72 EUR
Availability: BackOrder
Author: IEEE Electron Devices Society
ISBN: 978-0-9651577-3-5

IEEE Electron Devices Society(Autor*in)

I.E.E.E.Press

Erschienen am 1. September 1999

Buch

Softcover

224 Seiten

978-0-9651577-3-5 (ISBN)

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