2000 IEEE International Workshop on Defect Based Testing (Dbt 2000)

Name: 2000 IEEE International Workshop on Defect Based Testing (Dbt 2000)
Brand: I.E.E.E.Press
Price: 133.94 EUR
Availability: OutOfStock

IEEE Computer Society(Autor*in)

I.E.E.E.Press

Erschienen am 1. Mai 2000

Buch

Softcover

85 Seiten

978-0-7695-0637-1 (ISBN)

133,94 €inkl. 7% MwSt.

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