Abbildung von: Defect Detection via THz Imaging - VDM Verlag

Defect Detection via THz Imaging

Potentials and Limitations
Kaveh Houshmand(Autor*in)
VDM Verlag
Erschienen am 6. November 2008
Buch
Softcover
88 Seiten
978-3-639-10369-4 (ISBN)
50,31 €inkl. 7% MwSt.
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