
Silizium-Halbleitertechnologie
Grundlagen mikroelektronischer Integrationstechnik
Ulrich Hilleringmann(Autor*in)
Springer Vieweg (Verlag)
7. Auflage
Erschienen am 18. Januar 2019
Buch
Softcover
XI, 275 Seiten
978-3-658-23443-0 (ISBN)
Artikel ist vergriffen; siehe Neuauflage
Beschreibung
Das Lehrbuch behandelt die Grundlagen und die technische Durchführung der Einzelprozesse zur mikroelektronischen Schaltungsintegration in der Silizium-Halbleitertechnologie. Die Integrationstechnik setzt sich aus einer Vielzahl von sich wiederholenden Einzelprozessen zusammen, deren Durchführung und apparative Ausstattung extremen Anforderungen genügen müssen, um die geforderten Strukturgrößen bis zu wenigen Nanometern gleichmäßig und reproduzierbar zu erzeugen. Das Zusammenspiel der Oxidationen, Ätzschritte und Implantationen zur Herstellung von MOS- und Bipolarschaltungen werden - ausgehend vom Rohsilizium bis zur gekapselten integrierten Schaltung - aus Sicht der Prozessführung erläutert.
Weitere Details
Auflage
7., überarb. u. erg. Aufl. 2019
Sprache
Deutsch
Verlagsort
Wiesbaden
Deutschland
Verlagsgruppe
Springer Fachmedien Wiesbaden GmbH
Zielgruppe
Für Beruf und Forschung
Editions-Typ
Überarbeitete Ausgabe
Illustrationen
177
177 s/w Abbildungen
XI, 275 S. 177 Abb.
Maße
Höhe: 24 cm
Breite: 16.8 cm
Gewicht
599 gr
ISBN-13
978-3-658-23443-0 (9783658234430)
DOI
10.1007/978-3-658-23444-7
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Person
Prof. Dr.-Ing. Ulrich Hilleringmann leitet das Fachgebiet Sensorik an der Universität Paderborn und lehrt Halbleitertechnologie, Mikrosystemtechnik, Sensorik und Prozessmesstechnik.
Inhalt
Herstellung von Siliziumscheiben.- Oxidation des dotierten Siliziums.- Lithografie.- Ätztechnik.- Dotiertechniken.- Depositionsverfahren.- Metallisierung und Kontakte.- Scheibenreinigung.- MOS-Technologien zur Schaltungsintegration.- Erweiterungen zur Höchstintegration.- Bipolar-Technologie.- Montage integrierter Schaltungen.