Abbildung von: Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials - Springer

Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials

Springer (Verlag)
2. Auflage
Erschienen am 19. Januar 2005
Buch
Hardcover
XXI, 748 Seiten
978-3-540-43764-2 (ISBN)
85,59 €inkl. 7% MwSt.
Artikel ist vergriffen; siehe Neuauflage

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