Abbildung von: X-Ray Spectroscopy with Synchrotron Radiation - Springer

X-Ray Spectroscopy with Synchrotron Radiation

Fundamentals and Applications
Stephen P. Cramer(Autor*in)
Springer (Verlag)
Erschienen am 20. November 2020
Buch
Hardcover
XX, 388 Seiten
978-3-030-28549-4 (ISBN)
171,19 €inkl. 7% MwSt.
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