Abbildung von: Statistical Methods for QTL Mapping - Chapman & Hall/CRC

Statistical Methods for QTL Mapping

Zehua Chen(Autor*in)
Chapman & Hall/CRC (Verlag)
1. Auflage
Erschienen am 1. November 2013
Buch
Hardcover
308 Seiten
978-1-4398-6830-0 (ISBN)
117,50 €inkl. 7% MwSt.
Versand in 15-20 Tagen

Beschreibung

Weitere Details

Weitere Ausgaben

Person

Inhalt