Abbildung von: Life-Cycle Assessment of Semiconductors - Springer

Life-Cycle Assessment of Semiconductors

Sarah B. Boyd(Autor*in)
Springer (Verlag)
Erschienen am 17. September 2014
Buch
Softcover
XXVII, 226 Seiten
978-1-4899-9223-9 (ISBN)
106,99 €inkl. 7% MwSt.
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