selbst, sondern auch von dessen Umgebung, der "Matrix", abhängt.
Reihe
Auflage
Sprache
Verlagsort
Zielgruppe
Für Beruf und Forschung
Research
Illustrationen
12
12 s/w Abbildungen
III, 45 S. 12 Abb.
Maße
Höhe: 244 mm
Breite: 170 mm
Dicke: 4 mm
Gewicht
ISBN-13
978-3-531-02784-5 (9783531027845)
DOI
10.1007/978-3-322-88126-7
Schweitzer Klassifikation
1. Einleitung.- 2. Grundlagen der Sekundärionenemission.- 3. Die statische Methode der Sekundärionen-Massenspektrometrie.- 4. Apparatur.- 5. Die chemische Sekundärionenemission von Anionenkomplexen.- 6. Abtragung monomolekularer und mehrere Monolagen dicker Schichten durch Ionenbeschuß.- 7. Die Oxidation von Metallen im Monolagenbereich.- 8. Das Wertigkeitsmodell.- 9. Anwendung des Wertigkeitsmodells auf Sauerstoffexposition und Ionenbeschußdesorption ("dynamisches Wertigkeitsmodell").- 10. Die Grenzen der Anwendbarkeit des Wertigkeitsmodells.- Literatur.- Tabellen.- Abbildungen.
