The EMMM-2007 Conference brought together leading experts in electron microscopy and materials modeling from around the world to explore how to synergistically combine atomic scale characterization and modeling to enhance the development of new materials.
Reihe
Auflage
Sprache
Verlagsort
Zielgruppe
Für Beruf und Forschung
Für höhere Schule und Studium
Research
Illustrationen
Maße
Höhe: 23.4 cm
Breite: 16.2 cm
ISBN-13
978-0-7354-0519-6 (9780735405196)
Schweitzer Klassifikation
