Dieses Bild ist zur Zeit nicht verfügbar.

Nineteenth Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium

Semi-Therm Proceedings 2003: San Jose, CA, USA, March 11-13, 2003
Institute of Electrical & Electronics Engineers(IEEE) (Verlag)
Erschienen am 13. Juli 2004
Buch
Hardcover
404 Seiten
978-0-7803-7793-6 (ISBN)
199,86 €inkl. 7% MwSt.
Artikel leider nicht lieferbar

Weitere Details