
X-ray Characterization of Materials
Eric Lifshin(Herausgeber*in)
Wiley-VCH (Verlag)
Erschienen am 16. Juli 1999
Buch
Hardcover
XVI, 261 Seiten
978-3-527-29657-6 (ISBN)
Artikel ist vergriffen; siehe andere Ausgabe
Beschreibung
This reference work on methods in materials characterization covers developments of the different X-ray analysis techniques as well as the fundamentals of X-ray characterization.
Weitere Details
Sprache
Deutsch
Verlagsort
Weinheim
Deutschland
Zielgruppe
Für höhere Schule und Studium
Illustrationen
142 Abb., 19 Tab.
Maße
Höhe: 24 cm
Breite: 17 cm
Gewicht
741 gr
ISBN-13
978-3-527-29657-6 (9783527296576)
Schweitzer Klassifikation
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Eric Lifshin
X-ray Characterization of Materials
E-Book
07/2008
1. Auflage
Wiley-VCH
133,99 €
Als Download verfügbar
Inhalt
X-ray diffraction; application of synchrotron X-radiation to problems in materials science; X-ray fluorescence analysis; small-angle scattering of X-rays and neutrons; X-ray microscopy.