Bild: Pattern Recognition and Machine Learning - Springer

Pattern Recognition and Machine Learning

Proceedings of the Japan-U.S. Seminar on the Learning Process in Control Systems, held in Nagoya, Japan August 18-20, 1970
King-Sun Fu(Herausgeber*in)
Springer (Verlag)
Erschienen am 12. Dezember 2012
Buch
Softcover
X, 344 Seiten
978-1-4615-7568-9 (ISBN)
128,39 €inkl. 7% MwSt.
Versand in 15-20 Tagen

Beschreibung

Weitere Details

Weitere Ausgaben

Inhalt