Proceedings of the International Symposium for Testing and Failure Analysis, 1990

Name: Proceedings of the International Symposium for Testing and Failure Analysis, 1990 | The Failure Analysis Forum for Microelectronics and Advanced Materials
Price: 92.97 EUR
Availability: OutOfStock
ISBN: 978-0-87170-402-3

The Failure Analysis Forum for Microelectronics and Advanced Materials

R. Flutie R. J. Kar(Herausgeber*in)

ASM International(OH) (Verlag)

Erschienen am 1. Dezember 1990

Buch

Softcover

525 Seiten

978-0-87170-402-3 (ISBN)

92,97 €inkl. 7% MwSt.

Artikel ist vergriffen, Neuauflage unbestimmt

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