
Principios e desafios da IA generativa responsavel
Princípios e desafios da inteligência artificial generativa responsável
Wilfred W. K. Lin(Author)
Edicoes Nosso Conhecimento (Publisher)
Published on 11. December 2023
Book
Paperback/Softback
108 pages
978-620-6-93321-2 (ISBN)
Description
A IA generativa tem o potencial de revolucionar muitos aspectos das nossas vidas, mas também levanta importantes preocupações éticas e sociais. O desenvolvimento responsável da IA generativa requer uma abordagem ponderada e pró-ativa para enfrentar estes desafios.Princípios de uma IA generativa responsávelVários princípios podem orientar o desenvolvimento e a aplicação de uma IA generativa responsável:Transparência e explicabilidade: Os modelos de IA generativa devem ser transparentes e explicáveis, permitindo aos utilizadores compreender como geram resultados e tomam decisões. Esta transparência é crucial para criar confiança e garantir que os modelos não são utilizados de forma prejudicial ou discriminatória: Os modelos de IA generativa devem ser justos e não discriminatórios, evitando preconceitos que possam perpetuar ou exacerbar as desigualdades existentes. Para tal, é necessário considerar cuidadosamente os dados utilizados para treinar os modelos e a possibilidade de os preconceitos serem amplificados através do processo generativo.Prestação de contas e responsabilidade: Os criadores e os responsáveis pela implementação da IA generativa devem ser responsabilizados pelos impactos dos seus modelos.
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Language
Other
Product notice
Paperback (trade)
Unsewn / adhesive bound
Dimensions
Height: 220 mm
Width: 150 mm
Thickness: 8 mm
Weight
179 gr
ISBN-13
978-620-6-93321-2 (9786206933212)
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Schweitzer Classification
Person
Dr. Wilfred W.K. Lin ist Mitbegründer und leitender Direktor für Datenanalyse bei HerbMiners Informatics Limited. Wilfred W.K. Lin erwarb 2000, 2002 und 2005 die Abschlüsse B.A. (1st Hon.), M.Phil. und Ph.D. an der Fakultät für Informatik der Polytechnischen Universität Hongkong. Dr. Wilfred Lin ist professionelles Mitglied von ACM, IEEE, IES und AAAI.