
IntelliBau
Anwendbarkeit der RFID-Technologie im Bauwesen
Vieweg+Teubner Verlag
Published on 13. January 2011
Book
Paperback/Softback
VIII, 101 pages
978-3-8348-1468-5 (ISBN)
Description
Die Umsetzung der elektronischen Planungsdaten von Bauobjekten in reale Objekte erfolgt durch Menschen, was regelmäßig zu Medienbrüchen führt. Diese führen zu hohen Datenverlusten in allen Lebenszyklusphasen von Bauwerken, die wiederum erhebliche zusätzliche Kosten verursachen. Die RFID-Technologie bietet die Datennutzung ohne Medienbruch und es ist in jedem Bauteil möglich, die wichtigsten Daten sowie die Herstellerdaten vor Ort bereit zu stellen. Zukünftige Softwareapplikationen, die diese dezentralen Daten der RFID-Transponder verarbeiten, unterstützen und optimieren die Prozesse im Bauablauf.
More details
Series
Edition
2011
Language
German
Place of publication
Wiesbaden
Germany
Publishing group
Vieweg & Teubner
Target group
Professional and scholarly
Forscher und Mitarbeiter in Forschungseinrichtungen
Hersteller und alle Beteiligten im Bauwesen, vom Planer über die ausführenden Firmen bis hin zum Nutzer
Illustrations
55 s/w Abbildungen
VIII, 101 S. 55 Abb.
Dimensions
Height: 210 mm
Width: 148 mm
Thickness: 8 mm
Weight
180 gr
ISBN-13
978-3-8348-1468-5 (9783834814685)
DOI
10.1007/978-3-8348-9876-0
Schweitzer Classification
Other editions
Additional editions

Peter Jehle | Stefan Seyffert | Steffi Wagner
IntelliBau
Anwendbarkeit der RFID-Technologie im Bauwesen
E-Book
03/2011
Vieweg+Teubner Verlag
€42.25
Available for download
Persons
Univ.-Prof. Dr.-Ing. Peter Jehle hat die Professur für Bauverfahrenstechnik am Institut für Baubetriebswesen der Technischen Universität Dresden inne. Die dort als wissenschaftliche Mitarbeiter angestellten Autoren Stefan Seyffert und Steffi Wagner verfassten den im Rahmen der Forschungsinitiative "Zukunft Bau" geförderten Forschungsbericht.
Content
Nutzungspotenzial der RFID-Technologie im Lebenszyklus eines Bauwerkes durch die Erzeugung eines intelligenten Bauteils; Anforderungen an die Speichergrößen und Speicherstruktur; Praktischer Nachweis ausgewählter Randbedingungen