Abbildung von: Beam Diagnostics in Superconducting Accelerating Cavities - Springer

Beam Diagnostics in Superconducting Accelerating Cavities

The Extraction of Transverse Beam Position from Beam-Excited Higher Order Modes
Pei Zhang(Autor*in)
Springer (Verlag)
Erschienen am 23. August 2016
Buch
Softcover
XII, 118 Seiten
978-3-319-34616-8 (ISBN)
106,99 €inkl. 7% MwSt.
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