Evaluatie van een A/D-converterparameter

met behulp van Histogram Test Techniek
 
 
GlobeEdit (Verlag)
  • erschienen am 28. Februar 2020
 
  • Buch
  • |
  • Softcover
  • |
  • 88 Seiten
978-620-0-59133-3 (ISBN)
 
ADC-tests zijn een belangrijke activiteit die een belangrijke rol speelt bij het bepalen van de nauwkeurigheid van een systeem. Veel toepassingen observeren metingen met behulp van ADC. Een dergelijke toepassing brengt een hoge nauwkeurigheid en resolutie met zich mee, en wordt dus geleverd door het dynamische bereik van het signaal. De waarden van ADC-parameters kunnen in de toekomst worden verbeterd door het aantal monsters, de frequentie en de overdrive te verhogen. Het testalgoritme kan worden toegepast op experimentele ADC-analyse in real time. Gewijzigd code-dichtheidsalgoritme dat het effect van fouten op de histogramgegevens vermindert. Dit algoritme kan hetzelfde niveau van nauwkeurigheid bereiken als het conventionele code-dichtheidsalgoritme, maar dan met een aanzienlijk kleiner aantal monsters, wat een kortere testtijd en lagere testkosten betekent. De nieuwe methode is zeer efficiënt en kan worden gebruikt om het testen van ADC's met hoge resolutie met een betere dekking mogelijk te maken en de tijd en kosten van het testen van ADC's met gemiddelde resolutie te verminderen. Dit boek is vertaald met Kunstmatige Intelligentie.
  • Höhe: 220 mm
  • |
  • Breite: 150 mm
  • |
  • Dicke: 5 mm
  • 149 gr
978-620-0-59133-3 (9786200591333)
Dr. JAIN Associate Professor, EEE-afdeling, Mandsaur University, promoveerde in ECE. Hij heeft papers gepubliceerd in International Journal en vermeld in IEEE conferentie Proceedings. Onder zijn leiding zijn studentenprojecten gesanctioneerd voor financiële bijstand door het Department of Science & Technology.

Sofort lieferbar

35,90 €
inkl. 7% MwSt.
in den Warenkorb